Oberfläche und ihre Messung von optischem Glas

Der Teil der Oberfläche nach der optischen Bearbeitung, der Lichtstreuung erzeugt, wird allgemein als die beschädigte Schicht nach der Bearbeitung vom Glas bezeichnet. Die Schadensschicht wird in zwei Teile unterteilt: die Oberflächenunebenheitsschicht und die Rissschicht. Die konkav-konvexe Schicht bezieht sich auf die unebene Schicht mit kleinen Abständen und kleinen Spitzen und Tälern auf der Oberfläche des Teils nach der Bearbeitung. Diese Schicht kann direkt mit einem Profiler gemessen werden. Die Rissschicht befindet sich unter der konkav-konvexen Schicht. Glas entwickelt mikroskopisch kleine Risse, die nicht direkt messbar sind. Solange eine unebene Schicht vorhanden ist, muss eine Rissschicht vorhanden sein. Die rissige Schicht muss nicht notwendigerweise eine konkav-konvexe Schicht haben. Die rissige Schicht ist viel größer als die konkav-konvexe Schicht.

Die unebene Oberflächenschicht ist ein Problem der Oberflächenrauhigkeit und kann mit einem Oberflächen Profilometer gemessen werden. Die Verfahren zum Messen von Poliergrad umfassen: Bildanalyse zur quantitativen Bestimmung von Bruchstellen des Reste, Lichtstreu und Hellfeld-Beobachtung im Dunkelfeld.

Bildanalyse für Quantitative Bestimmung von Bruchstellen vom Rest: Die Fachkraft legt  die Oberfläche vom zu testenden optischen Elements auf den Mikroskop-Arbeitstisch des Bildanalysators und misst die Anzahl der Punkte in der Mitte, die Anzahl der Bruchstellen vom Rest, die Gesamtfläche von die gebrochenen Punkte und die gebrochenen Punkte pro Flächeneinheit, die Anzahl der Punkte, die Größe verschiedener gebrochener Punkte und ihre Proportionen sowie das Verhältnis der Gesamtfläche der gebrochenen Punkte zur gemessenen Fläche. Das Verhältnis der Gesamtfläche der gebrochenen Punkte zur gemessenen Fläche wird als Index verwendet, um den Poliergrad zu messen.

Die Methode der Streuung basiert auf dem normalen Lichteinfall auf die polierte Glasoberfläche (das Innere des Glasmaterials sollte frei von Blasen und Verunreinigungen sein, z.B. kein Riss). Das Licht wird an der Fehlstelle gestreut. Der Wert der Streulicht wird vom Galvanometer abgelesen, das die Größe des Oberflächenfehlers darstellt.

Dunkelfeld-Hellfeld-Beobachtung: Tatsächlich nutzt auch diese Methode das Prinzip vom Streulicht: Das zu vermessende optische Element wird auf den Objekttisch vom metallografischen Mikroskop gelegt. Die Lichtquelle und die Oberfläche in einem Winkel von 45° beleuchtet die zu messende Oberfläche. Beobachtung durch das Okular, wenn die zu prüfende Oberfläche gut und ohne Defekte poliert wurde, das von der Oberfläche reflektierte Licht nicht in das Sichtfeld eindringt und das Sichtfeld des Okulars pechschwarz ist. Wenn die zu prüfende Oberfläche Fehler hat, fällt die Streuung im Gesichtfeld ein und erzeugt Punkte und Glanzlicht. Anhand ihrer Anzahl und Größe kann das Ausmaß von Oberflächenfehlern beurteilt werden. Optische Inspektoren können die Bildanalyse als Benchmark verwenden und die Streuung und die Hellfleck als Mittel zur Bewertung des Poliergrads verwenden.

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